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分析サービス
最先端の分析技術に加え、半導体プロセスに関する豊富な知識と経験を活かしお客様の研究開発をサポートいたします。
原子間力顕微鏡
オージェ電子分光法
収束イオンビーム
走査透過電子 顕微鏡
二次イオン質量分析計
透過電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
気相分解ー誘導結合
プラズマ質量分光法
デュアルビーム
FIB/SEM
各種電気特性評価
Skorpiosについて
弊社はSkorpios Technologies, Inc.のテストウェーハ及び分析サービスを提供します。
- Skorpiosは開発ファウンダリ企業として最先端のシリコンベーステクノロジーの商品化や付加価値の高い製品の研究開発を短期間で実現いたします。
- テキサスのオースティンにある工場において、メモリー、トランジスター、ロジック、MEMS、バイオテクノロジー、イメージセンサーそしてソーラー関連の事業に従事するお客様へサービスを提供いたします。
- Skorpiosは8”及び12”の最先端プロセスライン、分析設備、商品化サービスなどを含む最先端の設備と技術を提供いたします。